具有出色精度和光学性能的LEXT™OLS5100激光扫描显微镜配备了让系统更加易于使用的智能工具。其能够快速完成亚微米级形貌和表面粗糙度的测量任务,既简化了工作流程又能让您获得可信赖的高质量数据
1.新一代激光共聚焦显微镜,融合了“精准测量”和“操作简便”
2.5项激光技术,3种3D观察模式,真彩全焦点、高分辨率全焦点、高度信息。
3.7种测量模式:高度测量、面积/体积测量、几何测量、表面粗糙度测量、粒子测量、膜厚测量、自动寻边处理
4.采用405nm半导体激光测量,总倍率108X~17,280X。
5.大视野2.5mm,高分辨率0.12um,精准测量,在高度测量上重复性达到0.012um。
6.面粗糙度测量上的世界高分辨率扫描, 16.6M Pixel模式使用100X物镜,0.03um
7.可以获取二维形态图像、三维形态图像、三维轮廓与地形图像,进行亚微米级测量
8.非常简易的操作,操作导航、多用户共用、随意观察角度、报告自动生成等等
9.不同于SEM,测量非破坏性、非接触,无须制样,无须做导电处理,无须真空。
10.标准型 电动100X100mm载物台,样品高度100mm
11.300型,电动300x300mm载物台,12“晶圆等大型样品检查用,样品高高度32mm